Microscopio a fascio ionico focalizzato (fib) combinato con un microscopio elettronico a scansione (sem), di seguito indicato come microscopio fib-sem, per effettuare le seguenti attività principali:- osservazione a risoluzione nanometrica di micro e nanostrutture mediante immagini di elettroni secondari, retrodiffusi e trasmessi;- realizzazione completa e anche assistita da software di preparati sottili (lamelle) per le analisi con microscopia tem, incluse la deposizione di strati protettivi da precursori gassosi, l'erosione e l'assottigliamento tramite fascio ionico focalizzato, il trasferimento tramite micromanipolazione;- analisi morfologica e composizionale di strutture di interesse con risoluzione submicrometrica;- sezionamento singolo o multiplo tramite sequenza controllata di strutture di interesse, ottenuta tramite deposizione di strati protettivi e l'erosione tramite fib